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商品編號：92396

殘余應力測量儀 PA-Micro

價格：詢價

產(chǎn) 地：更新時間：2021-01-21 11:00

品牌：其他型號：PA-Micro

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殘余應力測量儀 PA-Micro

PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其專利技術的光子晶體偏光陣列片，獨有的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。

主要特點：

操作簡單，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內(nèi)可***次測量，測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
高達2056x2464像素的偏振相機。

應用領域：

通信光纖
晶體

技術參數(shù)：

項次	項目	具體參數(shù)
1	輸出項目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】

2	測量波長	520nm

3	雙折射測量范圍	0-130nm

4	測量***小分辨率	0.001nm

5	測量重復精度	<1nm（西格瑪）

6	視野尺寸	142x170um到3.5x4.2mm (×2，×5，×10，×20，×50)

7	選配鏡頭視野	無

8	選配功能	實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制

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