蔡司超高分辨率場發射掃描電鏡GeminiSEM 300/VP
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:21
品 牌：型 號：GeminiSEM 300/VP
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詳細描述：
品牌：卡爾?蔡司 | 型號：GeminiSEM 300/VP |
制造商：德***卡爾蔡司公司 | 經銷商：歐波同有限公司 |
【品牌故事】
世界光學品牌，可見光及電子光學的領導企業----德***蔡司公司始創于1846年。其電子光學前身為LEO（里奧）,更早叫Cambridge（劍橋），積掃描電鏡領域40多年及透射電鏡領域60年的經驗，ZEISS電子束技術在世界上創造了數個： 臺靜電式透射電鏡 (1949)
臺商業化掃描電鏡 (1965)
臺數字化掃描電鏡(1985)
臺場發射掃描電鏡(1990)
臺帶有成像濾波器的透射電鏡 (1992)
臺具有Koehler照明的 200kV 場發射透射電鏡(2003)
臺具有鏡筒內校正Omega能量濾波器的場發射透射電鏡(2003) CARL ZEISS以其前瞻性至臻完美的設計融合歐洲至上制造工藝造就了該品牌在光電子領域無可撼動的***地位。自成立至今，***直延續不斷創新的傳統，公司擁有電鏡制造*核心 的專有技術，隨著離子束技術和基于電子束的分析技術的加入、是全球為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業。其產品的高性能、高質量、高可靠性和穩定性已得到全世界廣大用戶的信賴與認可。作為全球電鏡標準***的CARL ZEISS將***路領跑高端電鏡市場為您開創探求納米科技的嶄新紀元。 |
【總體描述】
二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術，GeminiSEM具有完整高效的檢測系統、極高的分辨率以及簡便的操作方式。Gemini物鏡設計將靜電場與磁場結合，可在限度地提升光學性能的同時將場發射對樣品的損傷降至。此設計確保了極佳的成像質量，即使是較具挑戰性的磁性材料也同樣可以達到良好的成像效果。通過二次電子和背散射電子的檢測也使得高效率的信號探測成為可能。探測器安裝在光軸上，可以減少調整時間，并可限度地降低成像時間。Gemini電子束加速器技術確保了小的探針尺寸和高的信噪比，以達到超低的加速電壓。 |
【技術參數】 分辨率： 0.8nm @15 kV 1.4 nm @1kV 放大倍數：12-2,000,000× 加速電壓：調整范圍：0.02-30 kV（無需減速模式實現） 探針電流： 3pA-20nA（100nA可選） 低真空范圍： 10-500Pa （GeminiSEM300 VP可用） 樣品室： 330 mm（φ），270 mm（h） 樣品臺：5軸優中心全自動 X=130mm Y=130mm Z=50 mm T=-3o-70o R=360o 連續 系統控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系統，可選鼠標、鍵盤、控制面板控制 |
【產品應用】
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分 析和失效分析，材料實時微區成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶 粒取向測量。 |
滬公網安備31011502016460號
