太陽(yáng)能硅片厚度測(cè)量的設(shè)備 太陽(yáng)能硅片厚度儀CHY-U
價(jià) 格：詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地：山東更新時(shí)間：2020-10-23 15:48
品 牌：SUMSPRING型 號(hào)：CHY-U
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2794
400-006-7520
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產(chǎn)品參數(shù)
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍 0-2mm （其他量程可定制
分辨率 0.1um
測(cè)量速度 10次/min（可調(diào)）
測(cè)量壓力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）
接觸面積 50mm2（薄膜），200mm2（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種
進(jìn)樣步矩 0 ～ 1300 mm(可調(diào))
進(jìn)樣速度 0 ～ 120 mm/s(可調(diào))
機(jī)器尺寸 450mm×340mm×390mm (長(zhǎng)寬高)
重 量 23Kg
工作溫度 15℃-50℃
相對(duì)濕度 最高80%,無(wú)凝露
試驗(yàn)環(huán)境 無(wú)震動(dòng)，無(wú)電磁干擾
工作電源 220V 50Hz
產(chǎn)品介紹
為什么檢測(cè)太陽(yáng)能硅片厚度？
在太陽(yáng)能硅片生產(chǎn)過(guò)程中，硅片厚度有***定的偏差范圍，對(duì)于180μm厚度的硅片，其偏差范圍為±20μm，超過(guò)此范圍則成為不良品--薄厚片，薄厚片的存在會(huì)影響產(chǎn)品的合格率，同時(shí)會(huì)影響電池片的生產(chǎn)工藝。通過(guò)對(duì)薄厚片的類(lèi)型及產(chǎn)生原因進(jìn)行分析，可以更好地減少薄厚片的產(chǎn)生，搭配CHY-U型太陽(yáng)能硅片厚度儀對(duì)硅片厚度進(jìn)行測(cè)量，可提高產(chǎn)品的成品合格率。
太陽(yáng)能硅片厚度測(cè)量的方法：
標(biāo)準(zhǔn) GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法》中給出了硅片厚度的測(cè)量方法，并對(duì)檢測(cè)儀器的相關(guān)參數(shù)做出了規(guī)定：
1.測(cè)厚儀由帶指示儀表的探頭及支持硅片的夾具或平臺(tái)組成。
2.測(cè)厚儀應(yīng)能使硅片繞平臺(tái)中心旋轉(zhuǎn)，并使每次測(cè)量定位在規(guī)定位置的2mm范圍內(nèi)。
3.儀表***小指示量值不大于1μm。
4.測(cè)量時(shí)探頭與硅片接觸面積不應(yīng)超過(guò)2mm2。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
